Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
для туннельных диодов |
| Дата введения: |
01.07.1985 |
| Дата публикации: |
01.08.2002 |
| Последнее измененение: |
12.09.2008 |
