Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Стандарт не распространяется на стабилитроны |
| Дата введения: |
01.07.1986 |
| Дата публикации: |
01.05.2004 |
| Последнее измененение: |
12.09.2008 |
