Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод |
| Дата введения: |
01.01.1975 |
| Дата публикации: |
01.07.2000 |
| Последнее измененение: |
16.04.2009 |
| Изменения: |
|
Изменение №2 к ГОСТ 18986.4-73
Изменение №1 к ГОСТ 18986.4-73
