Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
|
Статус: |
действующий
|
Английское название: |
Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time |
Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления |
Дата введения: |
01.01.1975 |
Дата публикации: |
01.05.2004 |
Последнее измененение: |
12.09.2008 |
Изменения: |
|
Изменение №2 к ГОСТ 18986.8-73
Изменение №1 к ГОСТ 18986.8-73