Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора |
| Дата введения: |
01.07.1984 |
| Дата публикации: |
09.09.1983 |
| Последнее измененение: |
12.09.2008 |
