Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений (ППД) и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров:
темнового тока;
емкости (гармонический и зарядовый методы);
энергетического разрешения;
энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод);
энергетического эквивалента толщины метрвого слоя;
дискретной чувствительности регистрации;
средней частоты следования фоновых импульсов;
радиационной помехоустойчивости;
аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы);
времени нарастания сигнала;
длительсности фронта нарастания сигнала.
Стандарт не распространяется на ППД, изготавливаемые по ГОСТ 18398-81, а также на запоминающие ППД |
| Дата введения: |
01.07.1987 |
| Дата публикации: |
09.07.1986 |
| Последнее измененение: |
16.04.2009 |
