Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
| Дата введения: |
01.01.1986 |
| Дата публикации: |
21.01.1985 |
| Последнее измененение: |
24.03.2009 |
| Изменения: |
|
Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
