ГОСТ 4.64-80
|
Дата актуализации описания:
01.05.2009
Дата актуализации содержания:
15.04.2009
|
Изменение №1 к ГОСТ 4.64-80
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
| Дата введения: |
01.07.1981 |
| Дата публикации: |
01.02.1985 |
| Последнее измененение: |
16.01.2009 |
| Изменения: |
|
|
