Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
|
| Статус: |
действующий
|
| Английское название: |
Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
| Область приложения: |
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов |
| Дата введения: |
01.07.2002 |
| Дата публикации: |
27.04.2001 |
| Последнее измененение: |
12.09.2008 |
